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CubieBLE-1109开发板开箱测试

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发表于 2018-9-22 15:23:16 |显示全部楼层
本帖最后由 蓝天-彭 于 2018-9-22 15:41 编辑

相信很多拿到CubieBLE-1109开发板的人都不知道如何入手使用,甚至有些都不知道BLE蓝牙这个概念,这里简单介绍一下开发板的上手测试。

1、BLE蓝牙
BLE蓝牙,也称低功耗蓝牙,是蓝牙技术联盟设计和销售的一种个人局域网技术,旨在用于医疗保健、运动健身、信标、安防、家庭娱乐等领域的新兴应用。相较经典蓝牙,低功耗蓝牙旨在保持同等通信范围的同时显著降低功耗和成本。

2、开发板开箱测试
1)开箱物件

开发板主板一块,micro usb线一条,天线一条,杜邦线多根

2)上电测试
开发板默认已经烧录好固件,上电即可使用。使用micro USB 2.0 连接线作为电源供应及调试用,micro USB连接开发板的micro口,另一端USB口连接电脑USB口,开发板电源选择开关选择USB&Li,打开电源开关为ON,上电后板载一个POWER灯(红色)亮,四个LED灯(绿色)亮。

3)查看上电打印
使用USB串口线连接板子UART0接口,即串口线RX(白色)接GPIO3(TX),串口线GND(黑色)接板上的GND(随便找个GND的pin),将串口线连接到PC,使用串口助手查看打印如下:
shell> input_manager_init success
adcval 3216, 97
1useCRC 1
BLE startup event
resetReason 03
flags 0002
maxSize 256
hwId 00000001
hwRev 02040105
swRev 00002001
swVerStr 20180524-g1f8bda7
c
TU
T d
-
b
d
TU
T d
-
t
x
TU
T d
-
complete
hci_vs_configuration_set_init completed
hci_vs_test_set_init completed
hci_vs_extension_set_init completed
le_read_buffer_size_complete le_max_num:4,(4,7)
[bt] [INF] show_dev_info: Identity: 11:02:f7:00:60:21 (public)
[bt] [INF] show_dev_info: HCI: version 4.2 (0x08) revision 0x0114, manufacturer 0x03e0
[bt] [INF] show_dev_info: LMP: version 4.2 (0x08) subver 0x0114
Bluetooth initialized
OTA: ota_profile_init
rmc_sm_execute event=9 state=0
rmc_sm_execute event=8 state=1
Undirect Advertising successfully started

最后一条打印表示发送非定向广播,说明开发板已经正常工作了。

4)LED灯,PWM测试
使用杜邦线短接PWM1与LED1,上电开机即可看到有个led在闪烁,闪烁一段时间停止;

5)IO按键测试
板子上由四个按键口组合出 6 个矩阵扫描按键;
目前因为有两个按键口被 JTAG 口复用,所以目前 SDK 使用扫描按键时需按如下图链接按键口:
a,KEY2与KEY6跳线短接
b,key7与KEY3跳线短接
c,KEY0与GPIO10跳线短接
d,KEY1与GPIO11跳线短接
当按下按键,串口会输出打印键值即测试通过

6)测试语音,蓝牙传输
CubieBLE-1109开发板自带MIC,可进行语音输入,通过蓝牙输出到手机App。
工具:Tool/语音测试工具/VoiceBleTest_V1.1.1_2018-08-06-debug.apk
方法:
a、手机安装CubieBLE-1109语音测试工具并取得应用权限;
b、将开发板上电,有一个LED灯会闪烁(PWM1连接LED1),表明系统正在发送广播,手机及其他设备可以连接(系统在广播状态才能被连接,按按键可以触发广播);
c、打开CubieBLE-1109语音测试工具,点击右上角的“START SCAN”扫描到设备如下


选择BLE_RMC,点击CONNECT,进入语音测试界面,按住开发板上的KEY1输入语音,松手后手机会显示刚才输入的语音词条,点击即可播放语音。

7)打印hello world
测试需要重新烧写固件,在进行该步骤之前请查看“CubieBLE-1109开发板使用手册_V1.0”搭建好编译开发环境,
工程路径:CubieBLE_1109_V1.0\samples\peripheral\helloworld\keil5\helloworld.uvprojx
烧写完按复位键重启,查看打印如下:


8)GPIO测试
GPIO测试工程路径:CubieBLE_1109_V1.0\samples\peripheral\gpio\keil5\gpio.uvprojx
硬件连接:GPIO0短接GPIO1 ;GPIO1作为输出口,GPIO0作为输入口
烧写完固件,按下复位键即可看到如下打印:

如上表示测试GPIO输入输出功能正常。

9)ADC按键测试
ADC按键测试工程路径:CubieBLE_1109_V1.0\samples\peripheral\adckey\keil5\adckey.uvprojx
修改sdk使用ADC0来测试,如下:
使用adc0通道


设置adc功能

硬件连接:GPIO0短接AD_KEY
烧写完按复位键重启,当按下AD_KEY1,AD_KEY2,AD_KEY3,打印如下

出现如上则测试ADC按键功能正常。

10)组合键测试
开发板的KEY5和KEY6可以形成组合按键,工程路径:CubieBLE_1109_V1.0\samples\peripheral\mxkeypad\keil5\mxkeypad.uvprojx
烧写完重启,当分别按下KEY6,KEY5,同时按KEY5,KEY6,打印如下:

出现如上打印则测试通过

11)DMA测试
工程路径:CubieBLE_1109_V1.0\samples\peripheral\dma\keil5\dma.uvprojx
正常打印如下:
dma testing
test_task: chan 0
Preparing DMA Controller: Chan_ID=0
Starting the transfer
DMA half transfer done
DMA transfer done
rxdata: It is harder to be kind than to be wise
compare pass

12)nvram测试
工程路径:CubieBLE_1109_V1.0\samples\peripheral\nvram\keil5\nvram.uvprojx
正常打印如下:
NVRAM testing
data_len 7, fcfg1: fdata1
data_len 7, fcfg1: fdata1
data_len 7, ucfg1: udata1
region Factory Config: base addr 0x3f0000 total size 0x4000
region offs 0x0, size 0x100, data size 0x1c, age 0x1
[ 0] config addr 0x3f0000 size 0x1c data size 0x7
     config name: fcfg1
     config data:
00000000: 66 64 61 74 61 31 00                               fdata1.
region User Config: base addr 0x3f4000 total size 0xc000
region offs 0x0, size 0x100, data size 0x1c, age 0x1
[ 0] config addr 0x3f4000 size 0x1c data size 0x7
     config name: ucfg1
     config data:
00000000: 75 64 61 74 61 31 00                               udata1.

13)RTC测试
工程路径:CubieBLE_1109_V1.0\samples\peripheral\rtc\keil5\rtc.uvprojx
打印如下:
=======Test RTC=======
NOW: rtc_time: 2018.09.22  15:20:00
[RTC] [INF] rtc_acts_set_datetime: set datetime: 2018.09.22  15:20:00
[RTC] [INF] rtc_acts_set_alarm_time: set alarm: 2018.09.22  15:20:10
rtc_time: 2018.09.22  15:20:00
rtc_time: 2018.09.22  15:20:00
rtc_time: 2018.09.22  15:20:01
rtc_time: 2018.09.22  15:20:02
rtc_time: 2018.09.22  15:20:03
rtc_time: 2018.09.22  15:20:04
rtc_time: 2018.09.22  15:20:05
rtc_time: 2018.09.22  15:20:06
rtc_time: 2018.09.22  15:20:07
rtc_time: 2018.09.22  15:20:08

14)SPI测试
参考:SPI调试bme280传感器

15)I2C测试
参考:I2C调试bme280传感器

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